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  • LQ-TS-80B三箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱
    LQ-TS-80B三箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱

    三箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱與低溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備的相關(guān)功能可以溶合在一起做成一臺(tái)設(shè)備,它就是高低溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備。即是一臺(tái)可以單獨(dú)做高溫沖擊試驗(yàn)+單獨(dú)做低溫沖擊試驗(yàn)+高低溫交變沖擊試驗(yàn)的設(shè)備。

    更新時(shí)間:2024-11-16型號(hào):LQ-TS-80B
  • LQ-TS-80A移動(dòng)式冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備
    LQ-TS-80A移動(dòng)式冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備

    移動(dòng)式冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備是一款可做高低溫循環(huán)試驗(yàn)也可做高低溫沖擊試驗(yàn)的模擬環(huán)境溫度的試驗(yàn)機(jī)。

    更新時(shí)間:2024-11-16型號(hào):LQ-TS-80A
  • LQ-TS非標(biāo)鋰電池三箱式冷熱沖擊箱
    LQ-TS非標(biāo)鋰電池三箱式冷熱沖擊箱

    非標(biāo)鋰電池三箱式冷熱沖擊箱也叫l(wèi)ed高低溫溫度沖擊箱,用壓縮機(jī)為主的制冷系統(tǒng)制冷產(chǎn)生低溫(也稱冷溫)及在加熱系統(tǒng)中產(chǎn)生的高溫(也稱熱溫)中兩溫度經(jīng)過控制器操控來回沖擊試驗(yàn)led產(chǎn)品或配件,檢測(cè)其所受的在短時(shí)間內(nèi)經(jīng)極冷溫及極熱溫的連續(xù)循環(huán)環(huán)境下所能承受的物理變化。

    更新時(shí)間:2024-11-15型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS非標(biāo)芯片冷熱沖擊測(cè)試箱
    LQ-TS非標(biāo)芯片冷熱沖擊測(cè)試箱

    非標(biāo)芯片冷熱沖擊測(cè)試箱是金屬、塑料、橡膠、電子,汽車零配件等材料行業(yè) 的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng) 高溫及 低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在 短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。滿足試驗(yàn)方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗(yàn)。

    更新時(shí)間:2024-11-15型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS節(jié)能型冷熱沖擊試驗(yàn)箱
    LQ-TS節(jié)能型冷熱沖擊試驗(yàn)箱

    節(jié)能型冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理變化。適用于金屬,塑料,橡膠,電子等材料。

    更新時(shí)間:2024-11-15型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS多功能冷熱沖擊控制箱
    LQ-TS多功能冷熱沖擊控制箱

    多功能冷熱沖擊控制箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足的試驗(yàn):GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗(yàn)。

    更新時(shí)間:2024-11-15型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS鋰電池冷熱溫度沖擊箱
    LQ-TS鋰電池冷熱溫度沖擊箱

    鋰電池冷熱溫度沖擊箱又名溫度沖擊試驗(yàn)箱是電工電器、航空、汽車、家電、涂料、科研等領(lǐng)域的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行溫度急速變化沖擊試驗(yàn),看產(chǎn)品試驗(yàn)后的參數(shù)及性能是否合格。

    更新時(shí)間:2024-11-15型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS芯片測(cè)試?yán)錈釠_擊實(shí)驗(yàn)箱
    LQ-TS芯片測(cè)試?yán)錈釠_擊實(shí)驗(yàn)箱

    芯片測(cè)試?yán)錈釠_擊實(shí)驗(yàn)箱是一種模擬自然界溫度急 劇變化的試驗(yàn)設(shè)備,通過它能測(cè)試產(chǎn)品在溫度快速變化的過程中所受到的物理和化學(xué)方面的損害,從而發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在的質(zhì)量問題,進(jìn)而對(duì)其改進(jìn)優(yōu)化。冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)是金屬、塑料、航空、航天、橡膠、電子等材料行業(yè)*的試驗(yàn)設(shè)備。

    更新時(shí)間:2024-11-15型號(hào):LQ-TS
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