簡(jiǎn)要描述:半導(dǎo)體高低溫檢測(cè)設(shè)備試驗(yàn)箱用于對(duì)工業(yè)電工、電器、電子等成品或半成品做低溫時(shí)溫度瞬間變化的氣候條件下的適應(yīng)性試驗(yàn),如從零下10度沖擊到零下20度或者零下40度,更低的可以做到零下55度或者零下65度。準(zhǔn)確的來說應(yīng)該是可以做零下65度至高溫150度中間的任意溫度范圍沖擊試驗(yàn),為什么這范圍中會(huì)出現(xiàn)高溫呢,而它卻只叫低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)
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半導(dǎo)體高低溫檢測(cè)設(shè)備試驗(yàn)箱也叫led高低溫溫度沖擊箱,用壓縮機(jī)為主的制冷系統(tǒng)制冷產(chǎn)生低溫(也稱冷溫)及在加熱系統(tǒng)中產(chǎn)生的高溫(也稱熱溫)中兩溫度經(jīng)過控制器操控來回沖擊試驗(yàn)led產(chǎn)品或配件,檢測(cè)其所受的在短時(shí)間內(nèi)經(jīng)極冷溫及極熱溫的連續(xù)循環(huán)環(huán)境下所能承受的物理變化。
半導(dǎo)體高低溫檢測(cè)設(shè)備試驗(yàn)箱的性能參數(shù)參考如下:
一、低溫沖擊可選擇溫度范圍:A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃(廠家還免費(fèi)配高溫至150度)。
二、溫度偏差:±2℃。
三、溫度波動(dòng)度:±0.5℃。
四、溫度恢復(fù)時(shí)間:≤5min。
五、溫度恢復(fù)條件:高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。
六、溫度沖擊轉(zhuǎn)移方式:采用氣動(dòng)驅(qū)動(dòng)。
七、高溫室儲(chǔ)溫的升溫時(shí)間:30min (+25℃~+200℃)。
八、低溫室儲(chǔ)溫的降溫時(shí)間:65min (+25℃~-75℃)。
九、低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)|低溫沖擊機(jī)|沖擊試驗(yàn)機(jī)工作時(shí)的噪音:(dB)≤65( 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定≤65分貝不算噪音)
十、型號(hào) 內(nèi)箱尺寸(mm) 外箱尺寸(mm) 功率(kw)
LQ-TS-49 W360×H350×D400 W1550×H1730×D1440 18.5
LQ-TS-80 W500×H400×D400 W1650×H1830×D1500 23.0
LQ-TS-150 W600×H500×D500 W1750×H1930×D1570 28.0
LQ-TS-225 W500×H750×D600 W1450×H2100×D1670 34.0
LQ-TS-408 W750×H800×D800 W1550×H2150×D1900 42.0
備注:以上參數(shù)如均不符合自家的產(chǎn)品測(cè)試條件,可以致電業(yè)務(wù)員或者聯(lián)系在線客服下單非標(biāo)定制,或者上門定制,不收額外費(fèi)用與成本。與低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)|低溫沖擊機(jī)|沖擊試驗(yàn)機(jī)相關(guān)的設(shè)備還有高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)、冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)、高低溫沖擊機(jī)、高低溫檢測(cè)沖擊試驗(yàn)機(jī)、高低溫沖擊實(shí)驗(yàn)機(jī)、冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)機(jī)、冷熱沖擊檢測(cè)機(jī)、兩箱式低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)、三箱式低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)、等沖擊試驗(yàn)機(jī)。歡迎廣大顧客前來咨詢。
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