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  • LQ-IP-338電子元器件沙塵防塵試驗(yàn)設(shè)備
    LQ-IP-338電子元器件沙塵防塵試驗(yàn)設(shè)備

    電子元器件沙塵防塵試驗(yàn)設(shè)備的應(yīng)用背景:自然界粉塵(沙塵、風(fēng)塵、灰塵等)對(duì)產(chǎn)品和材料的破壞,每年造成難以估計(jì)的經(jīng)濟(jì)損失。所造成的損害主要包括腐蝕、褪色、變形、強(qiáng)度下降、膨脹、發(fā)霉等,特別是電器產(chǎn)品因沙塵造成短路而極易釀成火災(zāi)。

    更新時(shí)間:2024-11-17型號(hào):LQ-IP-338
  • LQ-IP56-422真空實(shí)驗(yàn)室砂塵設(shè)備
    LQ-IP56-422真空實(shí)驗(yàn)室砂塵設(shè)備

    真空實(shí)驗(yàn)室砂塵設(shè)備用于檢測(cè)產(chǎn)品的外殼密封性能,主要是按照IP5X和IP6X兩個(gè)等級(jí)的試驗(yàn)方式,模擬產(chǎn)品在生產(chǎn)、運(yùn)輸、貯存過(guò)程中遇到的砂塵環(huán)境,從而檢驗(yàn)其外殼的防護(hù)性能。

    更新時(shí)間:2024-11-17型號(hào):LQ-IP56-422
  • LQ-IP56X-1000砂塵自由落塵試驗(yàn)箱
    LQ-IP56X-1000砂塵自由落塵試驗(yàn)箱

    砂塵自由落塵試驗(yàn)箱適用于測(cè)試產(chǎn)品的IP5X、IP6X防塵等級(jí),產(chǎn)品在模擬粉塵的氣候條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試。

    更新時(shí)間:2024-11-17型號(hào):LQ-IP56X-1000
  • LQ-IP56-225智能沙塵環(huán)境測(cè)試箱
    LQ-IP56-225智能沙塵環(huán)境測(cè)試箱

    智能沙塵環(huán)境測(cè)試箱由風(fēng)機(jī)推動(dòng)一定濃度的砂塵以一定的流速吹過(guò)試驗(yàn)樣品表面,從而評(píng)價(jià)這些試驗(yàn)樣品(設(shè)備)暴露于干砂或充滿塵土的大氣作用下防御塵埃微粒滲透效應(yīng)的能力、防御砂礫的磨蝕或阻塞效應(yīng)的能力及能否儲(chǔ)存和運(yùn)行的能力。

    更新時(shí)間:2024-11-17型號(hào):LQ-IP56-225
  • LQ-IP5-800儀器儀表密封防塵測(cè)試箱
    LQ-IP5-800儀器儀表密封防塵測(cè)試箱

    儀器儀表密封防塵測(cè)試箱的特性:可編程控制器分別對(duì)除塵風(fēng)機(jī)、粉塵振動(dòng)和總的試驗(yàn)時(shí)間進(jìn)行單獨(dú)或集體的時(shí)間控制。試驗(yàn)時(shí)間為99小時(shí)59分箱內(nèi)風(fēng)速可調(diào)(通過(guò)變頻器自動(dòng)調(diào)節(jié))。

    更新時(shí)間:2024-11-17型號(hào):LQ-IP5-800
  • LQ-IP56-1500真空粉塵測(cè)試機(jī)
    LQ-IP56-1500真空粉塵測(cè)試機(jī)

    真空粉塵測(cè)試機(jī)用于測(cè)試產(chǎn)品的IP5X、IP6X防塵等級(jí),測(cè)試樣品包含電子元件、戶外燈具、手機(jī)外殼、汽車(chē)配件等,采用箱式結(jié)構(gòu),無(wú)場(chǎng)地限制,7寸觸摸屏,全新操作系統(tǒng),更能遠(yuǎn)程操作,方便快捷。

    更新時(shí)間:2024-11-17型號(hào):LQ-IP56-1500
  • LQ-IP56-500汽車(chē)零件防塵IP6等級(jí)耐塵試驗(yàn)箱
    LQ-IP56-500汽車(chē)零件防塵IP6等級(jí)耐塵試驗(yàn)箱

    汽車(chē)零件防塵IP6等級(jí)耐塵試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于戶外燈具、家用電器、汽車(chē)配件及其他電子電工產(chǎn)品。滿足GB/T 10485-2007、GB 2423.37-2006 試驗(yàn)L:沙塵試驗(yàn)La2,GB 4208-2008 外殼防護(hù)等級(jí)(IP代碼), GB 7000.1-1996 、GB 7001-1986 燈具外殼防護(hù)等級(jí),等一系列相關(guān)的外殼防護(hù)等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。

    更新時(shí)間:2024-11-17型號(hào):LQ-IP56-500
  • LQ-IP5-500模擬粉塵老化試測(cè)試箱
    LQ-IP5-500模擬粉塵老化試測(cè)試箱

    模擬粉塵老化試測(cè)試箱適用于所有機(jī)械,電器,電子,電化和機(jī)電設(shè)備,評(píng)價(jià)這些設(shè)備暴露于干砂或充滿塵土的大氣的作用下的抵抗能力及能否儲(chǔ)存和運(yùn)行。

    更新時(shí)間:2024-11-17型號(hào):LQ-IP5-500
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